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行业应用
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晶圆在检测系统中的高精度定位

目前的标准晶圆的直径为8”,而业界正朝着制造更大尺寸的晶圆的方向发展,生产工艺如隐形切割,平版印刷,掺杂,植入,平面化等,使得大尺寸基板必须精确定位。对基材及其结构的要求很高。

现在,PJ提供了一个精确定位系统,用于检查新的更大的晶圆。该系统设计精确度高,重复定位精度高,能够定位直径达12”的晶圆,并且可用作自动化在缐控制器或独立定位器。高精度定位系统可以确保生产和过程控制的稳定性,也将缩短质量控制的周期时间。PJ的新系统提供微米级的定位,您的关键数据将以极佳的准确性快速获得。

 

要求:

  • 测量范围<300μm
  • 精简,可重复的步骤
  • 无位移
  • 上升时间短
  • 受控定位
示范
Messkurve